Röntgendiffraktométerek
D8 Endeavor
Automatizált pordiffrakciós mérésekhez az ipari folyamatok ellenőrzésénél és a minőségbiztosításban.
további információk...NANOSTAR
1 nm-től 125 nm-ig terjedő nanoszerkezetek vizsgálatához, valamint nanoszerkezetű felületek analíziséhez SAXS, GI-SAXS és Nanográfia segítségével.
további információk...